Diagnóstico de falhas e defeitos em sistemas eletrônicos, ferramentas:
1) Entrevista com o usuário: Serve para obter informações para começar uma investigação a respeito dos motivos que fazem com que o ítem não esteja funcionando.
2) Documentação técnica: Manuais técnicos fornecidos pelos fabricantes. Trazem, além de esquemas elétricos e eletrônicos, os procedimentos e as calibragens para atender um fim.
3) Levantamento de hipóteses: Limitar, através dos dados coletados, áreas ou componentes que podem conter os defeitos.
4) Inspeção visual: Pode iniciar um processo de manutenção; Resume-se em observar o estado ou o comportamento dos componentes eletrônicos ou elétricos. Isso afim de encontrar causadores de defeitos ou falhas.
5) Coleta de dados (medidas de grandezas): Pode,através da comparação com valores nominais, denunciar problemas como sobretenção, etc.
6) Comprovação das hipóteses: Com a medição dos sinais elétricos e a comparação com os valores nominais fornecidos pela documentação técnica, podemos comprovar as hipóteses levantadas, eliminando boa parte delas, e nos concentrar em uma pequena parte do circuito ou em um determinado componente.
7) Comparação com outro equipamento: Em caso de não haver determinado componente no estoque, o seu preço seja elevado, ou até mesmo a impossibilidade da sua compra sem se ter a certeza da resolução do problema.
Pode-se usar uma técnica de localização de defeitos em que utilizamos outro aparelho idêntico do defeituoso para comparar valores dos sinais elétricos entre sí.
8) Comparação com esquema elétrico: É feita não apenas para orientar a montagem da placa, mas também para que,durante a pesquisa de defeito, o técnico possa acompanhar o circuito montado na PCI com o desenho.
9) Levantamento de circuito: Em caso de não haver esquema elétrico, o técnico tem de faze-lo.
10) Análise de funcionamento: Com a análise de funcionamento e o descritivo da falha pelo operador o técnico tem uma pista da provável causa do defeito.
11) Diagnóstico por software: São programas localizadores de defeitos em eletrônica embarcada.