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Descripción
Mapa Mental por Daniel_Martinez, actualizado hace más de 1 año
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Creado por Daniel_Martinez
hace más de 10 años
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Índices de capacidad, métricas Seis
Sigma y análisis de tolerancias
- Índices de capacidad para procesos con doble especifi cación
- Índice Cp
- Índice Cr
- Índices Cpi , Cps y Cpk
- Índice K
- Índice Cpm (índice de Taguchi)
- Índice Cp
- Capacidad de largo plazo e índices Pp y Ppk
- Índices Pp y Ppk
- Índices Pp y Ppk
- Métricas Seis Sigma
- Índice Z
- Calidad Tres Sigma
- Calidad Seis Sigma
- Métrica Seis Sigma para atributos (DPMO)
- DPU frente a PPM y el nivel de sigmas
- Rendimiento combinado (Rolled Throughput Yield )
- Índice Z
- Procesos con sólo una especificación
- Estimación por intervalo de los índices de capacidad
- Estudio real (integral) de capacidad
- Diseño de tolerancias
- Estimación de los límites naturales de tolerancia de un proceso
- Fijación de límites de tolerancia para ensambles
- Porcentaje del ensamble fi nal que cae dentro de especifi caciones
- Defi nir tolerancias para los componentes individuales de un ensamble
- Claro y ajuste
- Porcentaje del ensamble fi nal que cae dentro de especifi caciones
- Combinaciones no lineales (simulación Monte Carlo)
- Fijación de límites de tolerancia para ensambles
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