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Mind Map by JUAN FERNANDO ARENAS BUSTAMANTE, updated more than 1 year ago
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Técnicas de
caracterización para
nanomateriales
- Métodos
ópticos
- Dispersión
dinámica de
luz (DLS)
Annotations:
- También se conoce como Photon correlation spectroscopy (PCS). Se usa para determinar tamaño de partícula en suspensiones coloidales. Principio de funcionamiento: un haz incidente de luz láser se apunta sobre un sistema coloidal de nanoparticulas esféricas que presentan movimiento browniano, el movimiento causa un efecto dopppler sobre el haz de luz refractado, la intensidad de este cambio se correlaciona con el tamaño de partícula.
- Microscopía
confocal de
escaneo láser (CLSM)
- Microscopía
óptica de escaneo
de campo cercano
(SNOM)
- Microscopía de
fluorescencia
de fotones
- Microscopía de
ángulo de
Brewster (BAM)
- Dispersión
dinámica de
luz (DLS)
- Técnicas de
caracterización por
sonda de electrones
- Microscópia
electrónica de
transmisión
(TEM)
Annotations:
- Tiene un principio de funcionamiento diferente al SEM (no se indica en el artículo) pero suministra la misma información que el SEM. La preparación de las muestras es comopleja
- Microscopía de
sonda de
electrones
(SEM)
- Microanálisis
con sonda de
electrones
(EPMA)
- Microscopía
electrónica de
transmisión
de barrido
(STEM)
- Microscópia
electrónica de
transmisión
(TEM)
- Técnicas de
caracterización
termodinámicas
- Análisis
termogravimétrico
(TGA)
- Análisis térmico
diferencial (DTA)
- Análisis de gas
evolucionado
- Calorimetría
diferencial de
barrido (DSC)
- Nanocalorimetría
- Método
Brunauere-Emmette-Teller
(BET)
- Análisis
termogravimétrico
(TGA)
- Técnicas de
caracterización por
sonda de fotones
- Espectroscopía de
fotoelectrones
(PES)
- Espectroscopía
UV - Visible
- Espectroscopía de
absorción
atómica
- Espectroscopía de
plasma acoplada
inductivamente (ICP-MS)
- Espectroscopía de
fluorescencia
- Resonancia
plasmática de
superficie
localizada (LSPR)
- Espectroscopía de
fotoelectrones
(PES)
- Técnicas de
caracterización de
densidad de carga
superficial
- Microscopía de
fuerza atómica
(AFM)
Annotations:
- Difiere del SEM en que este no necesita de un recubrimiento conductor para la realización del análisis, lo cual permite moderar las inversiones necesarias y facilita el análisis de muestras muy delicadas que no sobrepasarían el tratamiento de preparación.
- Potencial Z
- Valoraciones
conductimétricas
- Valoraciones
titulométricas
- Microscopía de
fuerza atómica
(AFM)
- Técnicas de
caracterización del
comportamiento
reológico
- Técnicas de
caracterización
con sonda de
partículas ionicas
- Difracción de
rayos X (DRX)
- Retrodispersión
de Rutherford
(RBS)
- Dispersión de rayos X
de ángulo cerrado
(SAS y SAXS)
- Análisis de Reacción
Nuclear (NRA)
- Espectroscopia
Raman
- Catodoluminiscencia
(CL)
- Espectroscopia de
Resonancia Magnética
Nuclear (NMR)
- Espectrometría de Masa de
Desorción / Ionización Láser
Asistida por Matrices
- Difracción de
rayos X (DRX)
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