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Beschreibung
Karteikarten von Tom Schobert, aktualisiert more than 1 year ago
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Erstellt von Tom Schobert
vor etwa 7 Jahre
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| Frage | Antworten |
| Prinzip | - Untersuchung unbekannter Röntgenstrahlung - optische Elemente |
| Bragg-Reflexion | k⋅λ=2dsinθ bestimmter Einfallswinkel nur eine Wellenlänge nur k=1 nennenswerte Rolle Reflexion an Vielschichtspiegeln effizienter, spektral schmaler Schichten mit d=λ/2 Vielschichtspiegel δ=λ/4 kein schleifender Einfall jede Ebenenschar für bestimmte Wellenlänge als Spiegel |
| Röntgenoptik | - Ebenenschar mit Bragg-Reflexion, parallel zur Oberfläche - jeder Reflexionswinkel genau eine Wellenlänge |
| Anwendung Spektroskopie | Netzebenenabstände 0,08 nm≤d≤1.3 nm→ höhere Ordnungen härtere Strahlung λ/Δλ≈〖10〗^4 Winkel von einigen μrad (10`) Kristallspektrometer i.d.R. sehr lichtschwach |
| Ebene Kristalle | - an jedem Punkt genau eine Wellenlänge reflektiert - gleiche Wellenlänge entlang von Kreisbogen reflektiert, Detektor große Bögen - Bragg-Spektrometer für Übersichtsspektren, bei sehr lichtstarken Quellen |
| Spiegel als Monochromator | - Probenlicht durch Kollimatoren parallel - fällt schräg auf ebenen Kristall - Drehen Kristall: ganzes Spektrum |
| Zylindrische gebogene Kristalle (besseres Lichtsammeln) | von Hamos-Anordnung Johann-Anordnung Johansson-Anordnung |
| von Hamos-Anordnung | - zylindrisch um Achse gebogen (zw. Quelle und Detektor) → einzelne Farben hintereinander auf Achse (in Detektionsebene) - Licht einer Farbe in einem Punkt (erhöhte Lichtstärke) - ausgedehnte Quellen (Fleck von Größe der Quelle) → verschlechterte spektrale Auflösung |
| Johann-Anordnung | - normal auf Ebene Quelle-Kristall-Detektor - Rowland-Kreis, Röntgenquelle innerhalb des Kreises - Strahlen auf virtuellen Punkt genau auf dem Rowland-Kreis - nur in betrachteter Ebene → Spektrallinien - starke Abbildungsfehler: o kleine Kristalle o nicht besonders lichtstark |
| Johansson-Anordnung | - Gitterebenen nicht parallel zur Kristalloberfläche → im Kristall ist spektrale Fokussierung fehlerfrei - Herstellung: o sphärisches Schleifen o präzises Krümmen |
| Kristallspektrometer mit räumlicher Auflösung | - in zwei Ebenen biegen → vereinigen und mehr Licht sammeln - Wahl beider Radien → für bestimmten Einfallswinkel verzerrungsfrei - in Detektionsebene in 1D spektrale Aufspaltung, normal dazu 1D-Abbildung Quelle → welche Position, welches λ - torisch gebogene Kristalle |
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