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1_Protocolo
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1_Protocolo
1) Investigación de causas de fallas por sobresfuerzo eléctrico (electrical over stress EOS) en microprocesadores de NXP reportadas por clientes de partes automotrices durante el periodo 2014-2016.
Annotations:
http://1drv.ms/1NKs6tV
Attachments:
Nota 1
Delimitador temporal: 2014-2016
Delimitador Espacial: Mundial (internet) y NXP
Delimitador Geográfico: Clientes de partes automotrices
Demilitador análitico: Causas de fallas por sobreesfuerzo electrico
Delimitador teorico: métrico de calidad
2)Poca seguridad en las evidencias de causas de fallas por sobreesfuerzo eléctrico en microcontroladores de la empresa NXP.
No se tiene al alcance información bibliográfica acerca del problema y sus posibles causas u orígenes
Falta de análisis estadístico de los datos obtenidos durante el periodo establecido para definir un antecedente del comportamiento de las fallas.
Deficiencias en las conclusiones acerca de que origina las fallas en los microprocesadores de NXP.
3. Objetivos
Generar evidencias fiables acerca de las causas de fallas por sobreesfuerzo eléctrico en microprocesadores de la empresa NXP.
Específicos
1) Recopilar informacion existente sobre las causas por sobreesfuerzo eléctrico (investigación bibliográfica y del internet ).
2) Realizar la selección de datos para efectuar el análisis estadístico
Obtener conclusiones aceptables sobre los posibles orígenes de las fallas en los microcontroladores de la empresa NXP.
4. Justificación
Beneficia económicamente a la empresa NXP
Otorga seguridad y confianza a los clientes
Establece antecedentes utiles para la resolución de problemáticas en otras empresas del mismo sector.
5. Marco Teórico
J. Ross Richard. "Micro electronics Failure Analisis," Desk reference, 6th edition
6.Alcance de la Investigación
7. Hipótesis
8. Variables
Nombre de la variable
Definición conceptual
Definición operacional
9. Diseño de la Investigación
10. Población y muestra
11. Instrumentos de recolección de datos
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