1_Protocolo

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Se muestra la estructura de un protocolo
David Palafox
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1_Protocolo
  1. 1) Investigación de causas de fallas por sobresfuerzo eléctrico (electrical over stress EOS) en microprocesadores de NXP reportadas por clientes de partes automotrices durante el periodo 2014-2016.

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    • http://1drv.ms/1NKs6tV

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    1. Delimitador temporal: 2014-2016
      1. Delimitador Espacial: Mundial (internet) y NXP
        1. Delimitador Geográfico: Clientes de partes automotrices
          1. Demilitador análitico: Causas de fallas por sobreesfuerzo electrico
            1. Delimitador teorico: métrico de calidad
            2. 2)Poca seguridad en las evidencias de causas de fallas por sobreesfuerzo eléctrico en microcontroladores de la empresa NXP.
              1. No se tiene al alcance información bibliográfica acerca del problema y sus posibles causas u orígenes
                1. Falta de análisis estadístico de los datos obtenidos durante el periodo establecido para definir un antecedente del comportamiento de las fallas.
                  1. Deficiencias en las conclusiones acerca de que origina las fallas en los microprocesadores de NXP.
                  2. 3. Objetivos
                    1. Generar evidencias fiables acerca de las causas de fallas por sobreesfuerzo eléctrico en microprocesadores de la empresa NXP.
                      1. Específicos
                        1. 1) Recopilar informacion existente sobre las causas por sobreesfuerzo eléctrico (investigación bibliográfica y del internet ).
                          1. 2) Realizar la selección de datos para efectuar el análisis estadístico
                            1. Obtener conclusiones aceptables sobre los posibles orígenes de las fallas en los microcontroladores de la empresa NXP.
                          2. 4. Justificación
                            1. Beneficia económicamente a la empresa NXP
                              1. Otorga seguridad y confianza a los clientes
                                1. Establece antecedentes utiles para la resolución de problemáticas en otras empresas del mismo sector.
                                2. 5. Marco Teórico
                                  1. J. Ross Richard. "Micro electronics Failure Analisis," Desk reference, 6th edition
                                  2. 6.Alcance de la Investigación
                                    1. 7. Hipótesis
                                          1. 8. Variables
                                            1. Nombre de la variable
                                              1. Definición conceptual
                                                1. Definición operacional
                                                  1. 9. Diseño de la Investigación
                                                    1. 10. Población y muestra
                                                      1. 11. Instrumentos de recolección de datos
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