1_Protocolo_EOS https://1drv.ms/w/s!AsrzXJjJjsVgg2Q6bLqXjd7-19_A

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1_Protocolo_EOS https://1drv.ms/w/s!AsrzXJjJjsVgg2Q6bLqXjd7-19_A
  1. 1. Diagnóstico de causas de fallas por sobresfuerzo eléctrico (electrical over stress EOS) en microcontroladores de "XP" reportadas por clientes de partes automotrices durante el periodo 2014-2016.

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    • http://1drv.ms/1NKs6tV

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    1. 1.1 Delimitador temporal: 2014-2016
      1. 1.2 Delimitador Espacial: Mundial (internet) y XP
        1. 1.3 Delimitador demográfico: N/A
          1. 1.4 Demilitador análitico: Causas de fallas por sobreesfuerzo electrico
            1. 1.5 Delimitador teórico: N/A
            2. 2. Poca existencia de evidencias de causas de fallas por sobreesfuerzo eléctrico en microcontroladores de la empresa "XP".
              1. 2.1 No se tiene al alcance información bibliográfica acerca del problema y sus posibles causas u orígenes.
                1. 2.2 Falta de análisis estadístico de los datos obtenidos durante el periodo establecido para definir un antecedente del comportamiento de las fallas.
                  1. 2.3 Deficiencias en las conclusiones acerca de que origina las fallas en los microcontroladores de "XP".
                  2. 3. Objetivos
                    1. 3. Documentar evidencias de las causas de fallas por sobreesfuerzo eléctrico en microcontroladores de la empresa "XP".
                      1. Específicos
                        1. 3.1 Recopilar información existente en la empresa "XP" con base al historial de los diagnósticos realizados en el laboratorio sobre las causas por sobreesfuerzo eléctrico.
                          1. 3.2 Obtener información teórica - documental sobre las causas por sobreesfuerzo eléctrico (investigación bibliográfica y del internet).
                            1. 3.3 Realizar la selección de datos para efectuar el análisis estadístico.
                              1. 3.4 Identificar las principales causas (orígenes de las fallas) en los microcontroladores de la empresa "XP" por sobreesfuerzo eléctrico.
                            2. 4. Justificación
                              1. 4.1 Permite conocer las partes del proceso involucradas en los fallos por EOS dentro de las organizaciones.
                                1. 4.2 Otorga seguridad y confianza a los clientes
                                  1. 4.3 Establece antecedentes útiles para la resolución de problemáticas en otras empresas del mismo sector.
                                  2. 5. Marco Teórico
                                    1. 5.1 Breve introducción de los microcontroladores
                                      1. 5.2 Definición de EOS (Electrical Overstress)
                                        1. 5.3 Daños causados en los componentes
                                          1. 5.3.1 Físicamente
                                            1. 5.3.2 Funcionalmente
                                            2. 5.4 Causas posibles de sobreesfuerzo eléctrico.
                                              1. 5.4.1 Proceso de fabricación
                                                1. 5.4.2 Manejo y uso
                                              2. 6.Alcance de la Investigación
                                                1. Explicativo
                                                2. 7. Hipótesis
                                                  1. 1. El 40% de los retornos de los clientes es por sobresfuerzo eléctrico.
                                                    1. 2. Los rechazos por sobresfuerzo eléctrico de los clientes son por exceder los límites de voltaje en un 30% (ESD/HBM) provocados por los mismos.
                                                    2. 8. Variables
                                                      1. Nombre de la variable
                                                        1. Definición conceptual
                                                          1. Definición operacional
                                                        2. 1.1 Retornos de los clientes.
                                                          1. La logistica del retorno tiene que ver con recoger los productos que poseen daños o no cumplen expectativas del cliente y llevarlos de nuevo a la empresa.
                                                            1. Cantidad total % de retornos en microcontroladores
                                                          2. 1.2 Retornos por sobresfuerzo eléctrico.
                                                            1. Corresponde a la cantidad de retornos causados solo por El daño de la pieza al tener un sobreesfuerzo electrico
                                                              1. Cantidad en % de retornos causados solo por EOS
                                                            2. 2.1 % de excedente de voltaje
                                                              1. Cantidad de energia eleectrica que excede los limites especificados a soportar por un dispositivo microcontrolaodr
                                                                1. Limites inferior y superior en los parámetros de voltaje
                                                            3. 9. Diseño de la Investigación
                                                              1. Explicativo: Causas
                                                                1. No experimental: Longitudinal toma datos en relacion al tiempo
                                                              2. 10. Población y muestra
                                                                1. Probabilística: Aleatoria simple
                                                                2. 11. Instrumentos de recolección de datos
                                                                  1. Extraccion de base de datos de laboratorios
                                                                  Show full summary Hide full summary

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                                                                  Proceso de la investigación científica
                                                                  Alejandra Cortes
                                                                  Mapa conceptual de los tres enfoque de investigación
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