1_Protocolo

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• Nota 1

1. 1.1 Delimitador temporal: 2014-2016
2. 1.2 Delimitador Espacial: Mundial (internet) y XP
3. 1.3 Delimitador demográfico: N/A
4. 1.4 Demilitador análitico: Causas de fallas por sobreesfuerzo electrico
5. 1.5 Delimitador teórico: N/A

1. 2.1 No se tiene al alcance información bibliográfica acerca del problema y sus posibles causas u orígenes.
2. 2.2 Falta de análisis estadístico de los datos obtenidos durante el periodo establecido para definir un antecedente del comportamiento de las fallas.
3. 2.3 Deficiencias en las conclusiones acerca de que origina las fallas en los microcontroladores de "XP".

1. 3. Documentar evidencias de las causas de fallas por sobreesfuerzo eléctrico en microcontroladores de la empresa "XP".
2. Específicos
   1. 3.1 Recopilar información existente en la empresa "XP" con base al historial de los diagnósticos realizados en el laboratorio sobre las causas por sobreesfuerzo eléctrico.
   2. 3.2 Obtener información teórica - documental sobre las causas por sobreesfuerzo eléctrico (investigación bibliográfica y del internet).
   3. 3.3 Realizar la selección de datos para efectuar el análisis estadístico.
   4. 3.4 Identificar las principales causas (orígenes de las fallas) en los microcontroladores de la empresa "XP" por sobreesfuerzo eléctrico.

1. 4.1 Permite conocer las partes del proceso involucradas en los fallos por EOS dentro de las organizaciones.
2. 4.2 Otorga seguridad y confianza a los clientes
3. 4.3 Establece antecedentes útiles para la resolución de problemáticas en otras empresas del mismo sector.

1. 5.1 Breve introducción de los microcontroladores "XP".
2. 5.2 Definición de EOS (Electrical Overstress)
3. 5.3 Daños causados en los componentes por sobreesfuerzo eléctrico.
   1. 5.3.1 Físicamente
   2. 5.3.2 Funcionalmente
4. 5.4 Causas posibles de sobreesfuerzo eléctrico.
   1. 5.4.1 Proceso de fabricación
   2. 5.4.2 Manejo y uso

1. Nombre de la variable
   1. Definición conceptual
      1. Definición operacional