1_Protocolo_EOS

Description

Se muestra la estructura de un protocolo
David Palafox
Mind Map by David Palafox, updated more than 1 year ago More Less
Martin Rodriguez
Created by Martin Rodriguez about 9 years ago
angela.ramostj
Copied by angela.ramostj over 8 years ago
David Palafox
Copied by David Palafox over 8 years ago
mmacias.calidad
Copied by mmacias.calidad over 8 years ago
David Palafox
Copied by David Palafox over 8 years ago
angela.ramostj
Copied by angela.ramostj over 8 years ago
angela.ramostj
Copied by angela.ramostj over 8 years ago
David Palafox
Copied by David Palafox over 8 years ago
6
0

Resource summary

1_Protocolo_EOS
  1. 1. Diagnóstico de causas de fallas por sobresfuerzo eléctrico (electrical over stress EOS) en microcontroladores de "XP" reportadas por clientes de partes automotrices durante el periodo 2014-2016.

    Annotations:

    • http://1drv.ms/1NKs6tV

    Attachments:

    1. 1.1 Delimitador temporal: 2014-2016
      1. 1.2 Delimitador Espacial: Mundial (internet) y XP
        1. 1.3 Delimitador demográfico: N/A
          1. 1.4 Demilitador análitico: Causas de fallas por sobreesfuerzo electrico
            1. 1.5 Delimitador teórico: N/A
            2. 2. Poca existencia de evidencias de causas de fallas por sobreesfuerzo eléctrico en microcontroladores de la empresa "XP".
              1. 2.1 No se tiene al alcance información bibliográfica acerca del problema y sus posibles causas u orígenes.
                1. 2.2 Falta de análisis estadístico de los datos obtenidos durante el periodo establecido para definir un antecedente del comportamiento de las fallas.
                  1. 2.3 Deficiencias en las conclusiones acerca de que origina las fallas en los microcontroladores de "XP".
                  2. 3. Objetivos
                    1. 3. Documentar evidencias de las causas de fallas por sobreesfuerzo eléctrico en microcontroladores de la empresa "XP".
                      1. Específicos
                        1. 3.1 Recopilar información existente en la empresa "XP" con base al historial de los diagnósticos realizados en el laboratorio sobre las causas por sobreesfuerzo eléctrico.
                          1. 3.2 Obtener información teórica - documental sobre las causas por sobreesfuerzo eléctrico (investigación bibliográfica y del internet).
                            1. 3.3 Realizar la selección de datos para efectuar el análisis estadístico.
                              1. 3.4 Identificar las principales causas (orígenes de las fallas) en los microcontroladores de la empresa "XP" por sobreesfuerzo eléctrico.
                            2. 4. Justificación
                              1. 4.1 Permite conocer las partes del proceso involucradas en los fallos por EOS dentro de las organizaciones.
                                1. 4.2 Otorga seguridad y confianza a los clientes
                                  1. 4.3 Establece antecedentes útiles para la resolución de problemáticas en otras empresas del mismo sector.
                                  2. 5. Marco Teórico
                                    1. 5.1 Breve introducción de los microcontroladores
                                      1. 5.2 Definición de EOS (Electrical Overstress)
                                        1. 5.3 Daños causados en los componentes
                                          1. 5.3.1 Físicamente
                                            1. 5.3.2 Funcionalmente
                                            2. 5.4 Causas posibles de sobreesfuerzo eléctrico.
                                              1. 5.4.1 Proceso de fabricación
                                                1. 5.4.2 Manejo y uso
                                              2. 6.Alcance de la Investigación
                                                1. 7. Hipótesis
                                                  1. 1. El 40% de los retornos de los clientes es por sobresfuerzo eléctrico.
                                                    1. 2. Los rechazos por sobresfuerzo eléctrico de los clientes son por exceder los límites de voltaje en un 30% (ESD/HBM) provocados por los mismos.
                                                    2. 8. Variables
                                                      1. Nombre de la variable
                                                        1. Definición conceptual
                                                          1. Definición operacional
                                                        2. 1.1 Retornos de los clientes.
                                                          1. La logistica del retorno tiene que ver con recoger los productos que poseen daños o no cumplen expectativas del cliente y llevarlos de nuevo a la empresa.
                                                            1. Cantidad total % de retornos en microcontroladores
                                                          2. 1.2 Retornos por sobresfuerzo eléctrico.
                                                            1. Corresponde a la cantidad de retornos causados solo por El daño de la pieza al tener un sobreesfuerzo electrico
                                                              1. Cantidad en % de retornos causados solo por EOS
                                                            2. 2.1 % de excedente de voltaje
                                                              1. Cantidad de energia eleectrica que excede los limites especificados a soportar por un dispositivo microcontrolaodr
                                                                1. Limites inferior y superior en los parámetros de voltaje
                                                            3. 9. Diseño de la Investigación
                                                              1. Explicativo: Causas
                                                                1. No experimental: Longitudinal toma datos en relacion al tiempo
                                                              2. 10. Población y muestra
                                                                1. Probabilística: Aleatoria simple
                                                                2. 11. Instrumentos de recolección de datos
                                                                  1. Extraccion de base de datos de laboratorios
                                                                  Show full summary Hide full summary

                                                                  Similar

                                                                  Mapa mental - Metodología de la investigación
                                                                  Mar?a Fernanda Callejas De Le?n
                                                                  Investigación científica, tipos y niveles de investigación
                                                                  Eunice Sabaján
                                                                  1 Protocolo
                                                                  m.santoscoy
                                                                  Protocolo
                                                                  anflar510
                                                                  Protocolo
                                                                  diego.arech
                                                                  Protocolo
                                                                  David Palafox
                                                                  Redes wifi
                                                                  ricardo rivas
                                                                  Planteamiento del Problema
                                                                  Dalia Alvarez
                                                                  Protocolos de enrutamiento
                                                                  Oscar Lezcano
                                                                  Expedientes clínicos
                                                                  fercervantesz
                                                                  Investigar
                                                                  Frank Peña